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硅碳捧的电气性能

    ①硅碳棒电阻温度系数。硅碳棒的结构属于碳化硅高温半导体材料结构,它的电阻温度系数不同于金属导体,微量的杂质影响硅碳棒冷态电阻,使硅碳棒的电阻温度系数在0-800℃时呈负值(电阻值随硅碳棒发热温度升高而减少)。800℃以上电阻温度数呈正值(电阻值随硅碳棒发热沮度的升高而增大)。一般情况下,在100090、1500℃之间,电阻温度系数变化不是很大(约巧%以内),达到1627℃以后,电阻温度系数突然呈指数增长(也就是SiC迅速分解)。由于硅碳棒含有的杂质的品种不同,电阻温度系数呈正值的温度转变点也有差别,如国外的硅碳棒转变点大都为6阅℃左右。同时,硅碳棒的电阻温度特性曲线离散性很大,虽然都是上面所说的大概趋势,但相同规格产品,其曲线都不完全吻合(特别是800℃以前)。
    ②硅碳棒高温电阻。由于硅碳棒电阻温度特性的离散性,而且这种特性主要在800℃以前差异较大,800℃以后差异较小,而且,800℃以上时电阻温度系数受温度影响较小,相当于半导体特性中的饱和段,所以检测硅碳棒电阻时最好测定在1000℃时的电阻(我公司控制标准是1050℃左右)。所以现在硅碳棒上标注的电阻,都是在】050℃左右时的电阻,它与冷态电阻之间没有规律可循。
    ③硅碳棒表面负荷密度,是指硅碳棒发热部表面单位面积所承受的电功率用W/cm表示。在相同炉温条件下,表面负荷密度值选择大,则硅碳棒可以用的少,但温度调节范围狭窄,使用寿命短,反之,硅碳棒用的多,使用寿命长,而且温度调节范围大,因此硅碳棒表面负荷密度与使用寿命成反比。棒体表面承受的功率与窑炉结构形式,炉膛温度、传热方式、炉内气氛诸因素有关。说明书中各种硅碳棒规定了在相应炉膛温度下的允许负荷。
    ④发热部与冷端部电阻率比系数,是指硅碳棒通电升到高温时,通过测量计算的发热部与冷端部的电阻率之比的系数。行业标准是GD为12,GC为5。www.sdzygw.com

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