碳化硅在机械工业方面和其它工程产品方面有着潜在的应用前景。表面裂纹是硅碳棒损坏的主要原因。在工厂已经创立了无损伤试验，为的是采用干式扫描超声试验鉴别表面缺陷。对于能够经得住恶劣条件(如:高温、耐压和各种气氛)的高性能材料，有增长的需求，人们观察到硅碳棒上缺陷(裂纹)的存在明显地减少了信号的振幅，在一些情况下，当缺陷很大的时候，信号会完全损失。除在硅碳棒缺陷区域信号减少之外，信号振幅的减少是由于多重扩散。频差图形振幅的减少与缺陷的大小有关。缺陷的位置由频差图形的偏移所决定。在接收图形中位移的总数与用接收器探头探得缺陷回波的到达时间有关。在频差图形中更长的偏移说明缺陷离接收器的探头更远。图3硅碳棒上典型的频差特征曲线图例图3a和图3b显示硅碳棒分别在好的和裂纹区域观察到的典型的频差图形。当试验时，好的硅碳棒给出80%频率信号高度的振幅，反之，有缺陷的硅碳棒(有l Omm长的裂纹)给出20%频率信号高度的振幅。在另外的情况下，有长3mm的裂纹给出50%频率信号高度减少的振幅。这些裂纹源于硅碳棒表面。当试验时，人们观察到图形的移位就是缺陷所在，它指示着缺陷的相关位置。因而，频差图形的有关振幅估计出了缺陷的大小。3rnm小的缺陷用这种方式探出，表明即使一个非常小的裂纹也会被查出。由于可看到相关振幅的差别，此技术确实能够探出缺陷。采用干式一扫描超声试验检验硅碳棒的可行性已经得到了确认。干式一扫描试验快捷并且能够被广泛用于各种各样碳化硅产品，检测表面缺陷的存在不像传统的试验，探头和试验物表面之间无需祸合剂。由于祸合剂进人到了碳化硅产品中，且由于需要的均匀的祸合剂层产生了干扰，这避免了讨厌的影响。www.sdzygw.com